芯片测烧使用的不良品多种细分类装置

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芯片测烧使用的不良品多种细分类装置
申请号:CN202422541735
申请日期:2024-10-21
公开号:CN223337850U
公开日期:2025-09-16
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了芯片测烧使用的不良品多种细分类装置,包括固定杆,固定杆设置于芯片测烧机框架边侧,还包括:盛装组件,盛装组件包括穿插连接于固定杆端部的回收槽,回收槽内腔设置有多个隔断部,回收槽顶部设置有凸起部;限位组件,限位组件包括穿插连接于固定杆顶部的插杆,固定杆与插杆穿插处设置有回弹部;本实用新型通过工作人员将盛装组件中的回收槽沿着其与芯片测烧机框架边侧固定杆穿插处进行所需位置移动,限位组件避免回收槽与固定杆脱落分离,回收槽中设置有隔断部,隔断出不同的放置空间,便于人工将从测烧机取下的不良芯片根据损坏程度放入不同的放置空间中,便于后期对分类完成的不良芯片进行回收处理。
技术关键词
回收槽 分类装置 不良品 限位组件 芯片 盛装 插杆 回弹 隔板 框架 推杆 内腔 弹簧
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