一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置

一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置，属于电子元器件生产技术领域。包括：包括底架、Z轴探针机构、下部探针机构、运动调节机构。所述底架包括底板、测试底座、支撑杆，产品座制作于测试底座的顶面；Z轴探针机构包括Z轴滑轨、滑块、压板、探针连接座、立柱、限位块、上部探针、拉簧、探针座转接印制电路板，上部探针通过连接座上的孔进行定位安装；下部探针机构位于产品座中心位置下方，下部探针转接印制电路板中心焊接有弹性探针，下部弹性探针与上部探针处于同心位置；运动调节机构包括立柱、拉簧，拉簧位于立柱的两侧。解决了现有测试技术准确性差、效率低、可重复性差的问题。广泛应用于双面焊盘制程产品批生产工艺测试技术中。