助力框架装置及芯片老化测试设备

本实用新型属于芯片测试技术领域，公开了助力框架装置及芯片老化测试设备，助力框架装置包的助力把手枢接于框架组件上，助力把手的枢接轴将助力把手沿长度方向分为施力部和助力部；框架组件沿第一方向滑动连接于测试架的导轨构件上，导轨构件的助力槽沿第一方向的一端为用于与助力部抵接的第一抵接端；助力把手相对框架组件转动形成拔出状态、避让状态以及锁定状态，助力把手处于拔出状态时，助力部抵接于第一抵接端；助力把手处于避让状态时，助力把手能相对框架组件转动而助力部活动设于助力槽内；转动锁定机构设于助力把手与框架组件之间，用于锁定助力把手相对框架组件的转动以保持在锁定状态。上述设置能够精确控制拔出方向以及拔出力大小。