一种芯片四面检测装置

本实用新型涉及公开了一种芯片四面检测装置。涉及芯片检测技术领域。本申请具体包括环形运输组件、上料组件、下料组件和芯片检测组件，上料组件用以将芯片放置在环形运输组件，环形运输组件用以对芯片进行运输，芯片检测组件用以对环形运输组件上的芯片进行四面检测，下料组件用以对环形运输组件上的芯片进行下料。本实用新型的环形运输组件可同时对多个待检测芯片进行环线运输，再通过芯片检测组件在待检测芯片的上方，对待检测芯片四个侧面的图像进行抓取，以进行检测，从而既能够减少设备对空间的占用，又能够提高单个芯片外观检测的效率，进而提高生产效率，降低生产成本。