一种兼容多接口的老化测试板

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一种兼容多接口的老化测试板
申请号:CN202422663756
申请日期:2024-10-31
公开号:CN223284747U
公开日期:2025-08-29
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种兼容多接口的老化测试板,所述兼容多接口的老化测试板包括:测试设备以及多个间隔设置在所述测试设备上的测试接口单元;所述测试接口单元包括电路板、7+15P公头连接器、7+15P母座连接器、M.2母座连接器、mSATA母座连接器、第一SATA通道切换芯片、第二SATA通道切换芯片以及DC3.3V电路芯片。本实用新型通过在电路板上集成7+15P母座连接器、M.2母座连接器、mSATA母座连接器,实现多接口兼容的连接方式,同时通过第一SATA通道切换芯片和第二SATA通道切换芯片进行通道切换,测试时可以对接口进行多选一,从而可以对不同规格的固态硬盘进行老化测试,具有较佳的适用性。
技术关键词
兼容多接口 老化测试板 芯片 通道 测试接口 测试设备 电路板 固态硬盘 电源
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