一种嵌入式存储芯片测试装置

本实用新型公开了一种嵌入式存储芯片测试装置，包括芯片条、测试座和压块，芯片条为若干芯片经贴片、焊线后的拼接体，若干芯片阵列分布；测试座的上端面设置有若干连接件，连接件与待测试的芯片条背面引脚焊盘一一对应；压块将芯片条压贴在测试座上，压块上开设有镂空窗，镂空窗与芯片的位置匹配。通过对部分焊线后的芯片进行测试，能快速确认封装前各个工序是否有异常，大大加速了芯片的测试验证，缩短了功能验证周期，降低了产品开发风险及后期的无效生产投入和在终端的应用风险。