一种芯片测试工装

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一种芯片测试工装
申请号:CN202422717174
申请日期:2024-11-08
公开号:CN223471116U
公开日期:2025-10-24
类型:实用新型专利
摘要
本申请涉及芯片测试的技术领域,尤其涉及一种芯片测试工装,包括适配板,所述适配板用于安装待测芯片,所述适配板上设置有供待测芯片放置的检测口,所述检测口底壁设置有若干供芯片引脚插入的插槽;测试夹具,所述测试夹具安装在适配板上,所述测试夹具用于将待测芯片卡紧在适配板上,所述测试夹具上开设有供芯片卡入后落入检测口的卡孔;FPC线接口,所述FPC线接口安装在适配板上,使得待测芯片引脚插入插槽后,待测芯片引脚输出端通过电路连接于FPC线接口的连接端;所述FPC线接口外接数据采集系统。本申请具有便于测试芯片,提高芯片测试效率,保证测试质量的优势。
技术关键词
芯片测试工装 测试夹具 FPC线 待测芯片 数据采集系统 芯片测试效率 接口 半球形 导电层 输出端 底座 电路 通道 弧面 方形
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