一种测试装置

本实用新型涉及一种测试装置，转接板体、插槽、固定组件和若干个通孔；插槽设于转接板体上，插槽水平设置于转接板体一侧，并用于放置芯片；通孔分别位于转接板体上；转接板体设有至少两个镂空槽，固定组件活动设置于镂空槽内；其中，固定组件包括环体和固定部；环体位于镂空槽内，并可沿镂空槽移动；固定部设于环体上，并用于将芯片固定；环体设有至少一固定柱。本实用新型在转接板上设置固定组件和通孔；在将固定柱插入至通孔内，再向外掰动固定部，能够使固定部卡住芯片，实现将芯片固定。通过掰动固定部的方式将芯片进行固定或取出，操作方式简单，耗时较短，能够大幅度提高工作效率，能够应用于各种长度的芯片，适用大规模量产的芯片测试。