基于纳米镀层像素传感器的中子测量系统及方法

AITNT
正文
推荐专利
基于纳米镀层像素传感器的中子测量系统及方法
申请号:CN202510207534
申请日期:2025-02-25
公开号:CN119936960B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
基于纳米镀层像素传感器的中子测量系统及方法,涉及中子测量技术领域。基于纳米镀层像素传感器的中子测量系统,包括探测器;探测器包括有源像素传感器;有源像素传感器的感光面无玻璃封装,有源像素传感器的感光面有层状的中子转换材料。一种中子测量方法,应用于基于纳米镀层像素传感器的中子测量系统;方法如下:中子与目标元素发生核反应,产生的α射线入射到有源像素传感器的感光面上,使有源像素传感器产生辐射响应信号;通过统计辐射响应信号即实现对中子的间接测量。本发明的优点在于:将特定的中子转换材料与有源像素传感器相结合,将中子探测转化为有源像素传感器擅长的α粒子探测,显著提高了中子(尤其是热中子)的探测效率。
技术关键词
有源像素传感器 二维六方氮化硼 碳化硼薄膜 镀层 中子测量方法 芯片板 探测器 纳米 真空热蒸发镀膜技术 铜箔 氟化锂 中子探测系统 PC机 射线 元素 石蜡
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种冷轧热镀铝硅锌液机组镀层厚度控制目标优化方法
线性回归模型 测厚仪 镀层 带钢宽度 气刀
2
一种高精度RGB边发射激光器灯组模块
铜基板 激光器 灯组 芯片组件 光电子封装技术
3
一种边激光器封装
激光器芯片 热沉 正电极 焊盘 罩体
4
LED支架及其加工方法
导电端子 LED支架 透光 LED芯片 塑胶
5
一种隐切阻断及双刀四切的切割方法
切割方法 开槽位置 激光 切刀 切割设备
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号