一种芯片贴片推力测试的推刀改进结构

本实用新型公开了一种芯片贴片推力测试的推刀改进结构，包括刀体，所述刀体的尾部插设固定在外置数显推力测试机上，所述刀体前端为V字型的尖头刀刃，在所述尖头刀刃后部设有便于让位的镂空区，所述镂空区长度为1.5mm、宽度为0.6mm；刀刃后部位镂空状便于让位，不会接触摩擦管脚，测试精度高，使用方便，不损伤产品，良品率高，有效满足使用要求。