一种芯片测试头用手动式机械臂

本实用新型公开了一种芯片测试头用手动式机械臂，包括底板，底板上设有立柱，立柱上连接有升降板，升降板上转动连接有第一段臂，第一段臂转动连接有第二段臂，第二段臂转动连接有第三段臂，第三段臂连接有转轴分度盘，升降板与第一段臂、第一段臂与第二段臂、第二段臂和第三段臂之间均连接有连接轴和锁紧件，第三段臂上设有定位组件，第三段臂内穿设有转轴，转轴穿插于转轴分度盘中心且与转轴分度盘固定连接，第三段臂上设有用于转轴锁止的第二锁紧把手。本实用新型的有益效果是：能够实现芯片测试头在特定范围内的高度、前后、左右及角度调节，便于测试头对不同位置及角度的芯片测试，便于手动调节；制造成本低，有利于中小型企业的使用和发展。