半导体光源和测量方法

在至少一个实施方式中，半导体光源（1）包括多个发光支路（2）和控制单元（3），其中‑ 发光支路（2）中的每个包括用于产生光的多个光电子半导体芯片（21），如µLED，‑ 发光支路（2）以相同方式运行，并且‑ 控制单元（3）包括比较模块（31），该比较模块被设置用于从发光支路（2）中的每个采集至少一个电参数（P），并将所采集的至少一个电参数（P）的各个发光支路（2）的数值用于故障分析。