一种基于TM传感器的多层材料厚度检测系统、方法、电子设备及存储介质

本发明涉及材料厚度检测技术领域，公开了一种基于TM传感器的多层材料厚度检测系统、方法、电子设备及存储介质，该系统包括：超声波检测模块，内部设置有发射单元与接收单元；特征提取模块，被配置为获取超声波信号，并且对超声波信号进行特征提取；控制模块，与超声波检测模块和特征提取模块电连接，控制模块包括采集单元、算法生成单元、分析单元、调整单元和存储单元；采集单元，被配置为采集幅值特征数据、波形特征数据和频谱特征数据；算法生成单元，被配置为以幅值特征数据、波形特征数据和频谱特征数据为输入信号生成分层测量算法，根据分层测量算法计算每一层材料的测量厚度。本发明能够自动调整测量算法，确保测量结果的准确性和可靠性。