通用型分布式测试系统

本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种通用型分布式测试系统。将逻辑测试向量分解整合成通用测试数据格式，通过压缩加密的方式形成可实时传输的测试数据库，并存放于测试电脑的通用存储空间，突破了对传统ATE平台中LVM向量深度的限制，测试效率更高。所述测试接口与所述N个边缘计算模块之间采用非对称传输方式，把下行带宽充分利用起来，提高了效率。采用可扩展的星型或链型拓扑结构，适合多种测试场景，扩展性好，模块化平台设计，复用率高。通过设置分布式边缘计算模块，将测试激励、采样、判断功能下放到边缘计算模块，通过边缘计算的方式降低了整机系统要求，低成本实现高并发测试。