一种基于光敏特性的DIO-PUF的芯片底部攻击检测电路及方法

本发明涉及一种基于光敏特性的DIO‑PUF的芯片底部攻击检测电路及方法，包括输入端口C、控制逻辑CTL、感光二极管电路、锁存型灵敏放大器LSSA、寄存器REG和输出端口KEY，该基于光敏特性的DIO‑PUF的芯片底部攻击检测电路及方法，通过检测芯片封装是否被去除，实时判断芯片的工作环境是否安全，从而提供了一种有效的防护手段，通过光敏特性DIO‑PUF技术，可以在芯片底部集成独特的数字秘钥，使得芯片在面对物理干预时能够有效验证其真实性，这种独特的身份标识可以大大增加攻击者的入侵难度，提升芯片的整体安全性，还可以用来检测芯片工作环境是否受到威胁，确保芯片在安全环境中运行，避免因环境变化导致的潜在安全问题。