晶体振荡器测试方法、系统和计算机可读存储介质

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晶体振荡器测试方法、系统和计算机可读存储介质
申请号:CN202510015303
申请日期:2025-01-03
公开号:CN119689138B
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了一种晶体振荡器测试方法、系统和计算机可读存储介质,可以应对多种类晶体振荡器的测试,兼容性较高,并且系统架构较简易,实现难度较低。其中,晶体振荡器测试系统包括控制设备、第一电控开关、振荡器芯片和晶体谐振器;控制设备与第一电控开关的第一端连接,还与振荡器芯片连接;振荡器芯片与第一电控开关的第二端连接;晶体谐振器与第一电控开关的第三端连接;第一电控开关断开时,第一端和第二端导通,第二端与第三端断开;第一电控开关闭合时,第一端和第二端断开,第二端与第三端导通;控制设备可以根据各个测试项,通过控制第一电控开关闭合,控制振荡器芯片中与测试项对应的引脚,获得测试项对应的测试数据。
技术关键词
电控开关 芯片 控制设备 晶体谐振器 开短路测试 输出模块 漏电流 晶体振荡器 信号 电压 可读存储介质 测试方法 电阻 动态 频率 计算机 探针台
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