一种适用于芯片漏电特性曲线测量的多通道测试电路

本发明旨在提供一种适用于芯片漏电特性曲线测量的多通道测试电路，本发明包括MCU模组、数字模拟转换器、模拟数字转换器、放大电路、反馈电路、电子开关、模拟开关、反向电路、校准回路、数字万用表、量程切换电路、矩阵开关、差分采样电路，MCU模组经数字模拟转换器与放大电路连接，放大电路的输出端分三路，一路经反向电路接入模拟开关，二路与量程切换电路连接，三路经反馈电路与电子开关连接，模拟开关分两路，一路与量程切换电路连接，二路经校准回路与数字万用表连接，量程切换电路分两路，一路经矩阵开关与被测电路连接，二路经差分采样电路与模拟数字转换器连接，电子开关经模拟数字转换器与MCU模组连接。本发明应用于漏电测试的技术领域。