基于面元优化处理技术的多光谱测温测量方法及其装置、存储介质和电子设备

本发明公开了一种基于面元优化处理技术的多光谱测温测量方法，其包括以下步骤：步骤一、将光谱信息转化为光谱能量值；步骤二、将涡轮叶片的各个曲面分别划分为多个三角形面元；步骤三、基于能量梯度对三角形面元进行一次调整，得到一次调整后的三角形面元；步骤四、基于神经网络模型技术，对三角形面元进行二次调整；步骤五、计算二次调整后的三角形面元的权重；步骤六、利用二次调整后的三角形面元的参数信息、光谱能量值以及三角形面元的权重值，计算得到待测涡轮叶片的辐射温度。本发明提供一种通过对面元进行细化、调整的优化处理方法，增强复杂叶片曲面的整体测量精度的多光谱测温测量方法。