存储器注错测试方法、接口、装置、存储介质及电子设备

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存储器注错测试方法、接口、装置、存储介质及电子设备
申请号:CN202510020330
申请日期:2025-01-07
公开号:CN119440931B
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开存储器注错测试方法、接口、装置、存储介质及电子设备,包括:获取基础测试用例、硬件注错测试对象以及测试条件;判断是否需要执行硬件注错测试,若是,则根据测试条件以及基础测试用例对所述硬件注错测试对象进行测试,得到硬件测试结果;若否,则跳过所述硬件注错测试;获取软件注错测试项以及每一所述软件注错测试项对应的所有功能测试用例;接收与所述软件注错测试项对应的注错参数,基于所述注错参数依次执行所述软件注错测试项对应的所有所述功能测试用例,得到软件测试结果;根据所述硬件测试结果以及软件测试结果得到固件测试结果。基于硬件注错和软件注错能够覆盖固件设计中的缺陷,实现对固件算法稳定性和自恢复能力检测。
技术关键词
功能测试用例 参数 测试接口 测试方法 固件 软件 存储器 待测对象 生成规则 基础 测试模块 电子设备 算法 处理器 输出模块 标志位 可读存储介质
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