一种面向集成电路参数测试的适应性测试方法

本发明公开一种面向集成电路参数测试的适应性测试方法，所述的适应性测试方法面向集成电路参数测试，通过分析测试项对测试结果的贡献度与测试项间的最大信息系数，推理最优测试子集，并以质量预测模型对合格产品的质量预测结果为依据，将合格产品更深入地划分为多个质量等级，进一步筛选出潜在的故障产品。所述的适应性测试方法可以在面对不同类型与不同生产规模的集成电路产品时，最大程度上降低参数测试的测试成本，并始终保持极低的测试逃逸率。