可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质

本公开提供了一种可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质，属于可测试性设计技术领域，该可测试性设计电路图形化的方法包括：从芯片可测试性设计阶段的电路描述信息中，查找可测试性设计电路的描述信息；根据可测试性设计电路的描述信息，采用与原始电路差异化的绘制参数，绘制可测试性设计电路。能够区别显示原始电路和DFT电路。