材料粒度测量方法、装置、设备及存储介质

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材料粒度测量方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510026452
申请日期:2025-01-08
公开号:CN119515956B
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本申请属于图像处理技术领域,公开了一种材料粒度测量方法、装置、设备及存储介质,方法包括:获取当前材料图像;对所述当前材料图像进行图像分割,得到多个分块材料图像;对多个所述分块材料图像进行图像识别,得到分块材料图像区域特征;基于所述分块材料图像区域特征对多个所述分块材料图像进行颗粒融合处理,得到融合图像;根据所述融合图像进行材料的粒度测量。通过将图像分割成多个子图进行处理,再将各子图的识别结果进行融合得到整个图像的识别结果,从而根据融合后的图像进行材料粒度测量,提高了测量精度和效率,适用于各种材料的粒度分析,有效降低了对硬件的要求。
技术关键词
分块 边界特征 粒度测量方法 图像识别模型 索引 图像分割 分辨率 深度学习模型 区域生成网络 图像特征提取 样本 列表 图像处理技术 实例分割 对象检测 像素 非线性 处理器 识别模块
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