一种芯片高低温老化实验箱防凝露控制系统及故障检测方法

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一种芯片高低温老化实验箱防凝露控制系统及故障检测方法
申请号:CN202510030924
申请日期:2025-01-09
公开号:CN119472614A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供的一种芯片高低温老化实验箱防凝露控制系统,包括采样模块、控制模块、执行模块;采样模块包括设置在高低温试验箱的传感器,分别采集高低温试验箱高低温区域的温度,保温区域以及常温区域的温度和湿度,采样模块采集结果用于控制模块分析凝露风险以及开启或关闭防凝露系统;执行模块包括防凝露加热带、干燥压缩空气设备以及防凝露风扇,执行模块依据控制模块的控制以执行多种防凝露措施。本发明还提供了一种芯片高低温老化实验箱防凝露控制系统故障检测方法,可以有效的对芯片高低温老化试验箱防凝露控制系统进行监控,及时发现控制系统的问题并调整控制策略,本发明还提供了一种芯片高低温老化实验箱防凝露控制系统故障检测方法。
技术关键词
状态监控模块 采样模块 控制系统 高低温老化试验 故障检测方法 控制模块 高低温试验箱 压缩空气设备 风扇监控 电磁阀 防凝露系统 传感器 控制器 芯片 固态继电器 加热带
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