芯片测试装置以及芯片测试设备

一种芯片测试装置以及芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域，芯片测试装置包括高低温卡盘、主体电路板以及辅助电路板。高低温卡盘设有承载面。主体电路板设于承载面，主体电路板背离承载面的一端面上划分多个测试区，相邻测试区之间形成间隔区，测试区被配置为装配待测芯片。辅助电路板设于间隔区，且沿远离主体电路板的方向延伸，辅助电路板被配置为提供测试信号给主体电路板，并通过主体电路板将测试信号输出给待测芯片。所设计的芯片测试装置，可简化主体电路板上测试区处结构，进而可缩减测试区尺寸，使主体电路板上可以划分出更多的测试区来装配待测芯片，提高主体电路板上待测芯片的密集度，有效提高测试效率，降低测试成本。