用于三维封装的扩散阻挡层的制备方法

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用于三维封装的扩散阻挡层的制备方法
申请号:CN202510031670
申请日期:2025-01-09
公开号:CN119446926B
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体三维封装技术领域,具体而言,涉及用于三维封装的扩散阻挡层的制备方法,其包括:熔炼高熵合金,高熵合金具有面心立方结构;轧制高熵合金,总压下量为80‑90%,轧制后在高熵合金的再结晶温度退火,空冷;切割得到厚度为1‑3μm的高熵合金贴片;通过植球回流的方法使锡球熔化、并与铜柱熔接成焊球;将高熵合金贴片和焊球在热压条件下进行热压键合,热压键合的温度为250~270℃,压力为200‑300gf,时间为20~30min。该制备方法得到的扩散阻挡层具有良好的阻挡效果。
技术关键词
扩散阻挡层 高熵合金 面心立方结构 半导体三维封装 热压 贴片 轧制 真空度 保温 热轧 压力 芯片 速率 气体 速度
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