摘要
本发明涉及芯片切割技术领域,提供了一种基于激光测高的方形工件切割系统及切割方法,通过测量工件指定位置的高度,能够准确复原工件的拟合表面信息,从而对不同位置的切割组件的高度进行补偿,并且根据拟合表面信息插值计算出任意位置点的高度,这样就能对部分位置点的高度进行验证,从而确定保证切割精度,且切割根据表面高度进行实时调整,保证了切入深度的一致性,也能尽量减少切割废品的产生,从而节约成本,而且在验证满足要求之后可无需继续验证,进而实现后续的直接切割,有利于提升切割效率。
技术关键词
工件切割系统
激光测距模块
切割工作台
方形
采样点
切割组件
工件切割方法
芯片切割技术
直线
精度
控制模块
矩形
投影面
载物台
连线
图像
系统为您推荐了相关专利信息
参数优化模型
曲线预测方法
海上风电场
LSTM模型
功率
球阀壳体
吊装夹具
红外对射传感器
升降机构
机械臂