模型训练方法、预测方法、系统、电子设备及介质

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模型训练方法、预测方法、系统、电子设备及介质
申请号:CN202510035145
申请日期:2025-01-09
公开号:CN119829413B
公开日期:2025-12-12
类型:发明专利
摘要
本发明提出的一种模型训练方法、预测方法、系统、电子设备及介质,通过历史缺陷数据能够确定在特定的开发配置数据下产生的缺陷,以得到对应的历史开发成熟度,通过历史开发成熟度以及历史开发配置数据来对开发成熟度预测模型进行训练,使得训练完成的开发成熟度预测模型能够了解开发配置数据与开发成熟度之间的关联性,从而在软件开发过程中,通过实时开发配置数据能够对开发成熟度进行预测,实现对软件开发过程中的缺陷异常的高效地识别与监控。
技术关键词
模型训练方法 数据 预测系统 电子设备 可读存储介质 处理器 识别模块 变量 存储器 计算机 聚类
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