基于线阵CCD垂直扫掠成像的屏均匀性检测方法

本发明属于视觉成像检测技术领域，具体是涉及基于线阵CCD垂直成像扫掠的屏均匀性检测方法。本方法利用线CCD相机实现对显示屏像素阵列的垂直成像，采用数据预处理与拼接算法进行2D成像，有效地避免了不同位置的图像畸变，减少相机的运动复杂性，提高扫描路径的稳定性，此外采用棱状柱面镜有效抑制入射光的影响，从根本上有效解决了屏检测领域在环境光的干扰下得到高质量图像的问题，克服了现今工业屏均匀性检测体积大兼容性问题，降低计算复杂度，提高了实时检测性能，为显示屏2D成像与检测提供了一种有效的手段。