芯片安全机制自检系统、方法、计算机设备和存储介质

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芯片安全机制自检系统、方法、计算机设备和存储介质
申请号:CN202510037158
申请日期:2025-01-09
公开号:CN119940246B
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种芯片安全机制自检系统、方法、计算机设备和存储介质。系统包括:自检控制模块,用于根据配置发送控制信号至需要自检的安全机制单元,使能安全机制单元的自检功能,发送伪随机数种子至伪随机数生成模块,并将循环冗余校验模块发送的校验码与校验值进行比较,根据比较结果输出自检结果;伪随机数生成模块,根据伪随机数种子生成若干伪随机数;安全机制单元,用于根据控制信号启动自检,接收伪随机数激励并生成输出数据;循环冗余校验模块,用于对各安全机制单元的输出数据进行循环冗余校验运算,生成对应的校验码,直至伪随机数遍历完毕时,将当前的校验码发送至自检控制模块。采用本系统能够提高自检覆盖率,降低测试时间和功耗。
技术关键词
循环冗余校验 伪随机数 机制 控制模块 自检系统 种子 自检功能 多路复用器 计算机设备 生成输出数据 故障覆盖率 处理器 自检方法 芯片 信号 存储器 输入接口
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