用于特高压环境的无源芯片测温方法及系统

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用于特高压环境的无源芯片测温方法及系统
申请号:CN202510039729
申请日期:2025-01-10
公开号:CN120043656A
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于特高压环境的无源芯片测温方法及系统,该方法包括:实时确定阅读器和测温无源标签之间的测温距离和获取所述特高压环境的环境传感数据;所述测温无源标签设置在所述特高压环境中的测温对象上;所述阅读器设置在可移动的测温执行主体上;根据所述测温距离,以及预设的距离判断算法,确定对应的测温时机参数;根据所述环境传感数据,以及预设的数据预测算法,确定对应的环境危险参数;根据所述测温时机参数和所述环境危险参数,确定所述阅读器或所述测温无源标签中的至少一个电路部件的工作指令;所述工作指令用于控制对应的所述电路部件的工作以使得所述阅读器或所述测温无源标签顺利执行测温任务。可见,本发明能够充分结合测温距离和环境因素来控制测温部件的工作,以使得特高压环境中的测温任务顺利执行,提高测温稳定性和测温精确度。
技术关键词
芯片测温方法 无源标签 阅读器 特高压 参数 判断算法 测温对象 发射机部件 接收机部件 执行主体 规划算法 可执行程序代码 数据 温度传感器部件 测温系统 指令 电路
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