可分步多次测量的子结构模态识别方法、装置、设备

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可分步多次测量的子结构模态识别方法、装置、设备
申请号:CN202510042339
申请日期:2025-01-10
公开号:CN119441792B
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种可分步多次测量的子结构模态识别方法、装置、设备;该方法包括:利用非线性调频模态分解算法,以目标函数最小为目标,对工程结构的各子结构中每一测量点的响应数据进行信号解调处理,得到至少一阶目标单分量数据;每一子结构至少与一个其他子结构具有公共测量点;基于各目标单分量数据,得到频谱数据;根据频谱数据中各测量点同一阶频谱幅值之比,得到各子结构的各阶振型幅值;根据各子结构的各阶振型幅值,将各子结构公共测量点的振型幅值调整一致,得到所有测量点的各阶振型幅值;根据所有测量点各阶振型幅值,基于模态置信准则最小化判断振型的方向;根据振型的方向,得到工程结构的模态振型。
技术关键词
模态识别方法 测量点 分解算法 幅值 核心 数据 参数 指标 非线性 调频 复杂度 偏差 识别模块 信号 识别装置 处理器 终端设备 存储器
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