一种红外电阻阵列电流驱动故障测试方法及系统

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一种红外电阻阵列电流驱动故障测试方法及系统
申请号:CN202510046548
申请日期:2025-01-13
公开号:CN119437444B
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本申请涉及电阻阵列电流测试技术领域,具体涉及一种红外电阻阵列电流驱动故障测试方法及系统,该方法包括:确定每个电阻元的电流波动度;基于每个电阻元与其余各电阻元之间所有电流数据的差异及相似度,确定每个电阻元与其余各电阻元之间的电流差异度;基于不同电阻元之间电流波动度的差异,并结合所述电流差异度,确定每个电阻元的驱动故障识别度,对红外电阻阵列电流驱动故障进行测试。本申请通过综合分析正常电阻元与异常电阻元中电流变化特征的差异,以及不同电阻元之间电流变化特征的差异对电阻元进行故障测试,提高对电阻元测试的准确性。
技术关键词
电阻 故障测试方法 阵列 指数 故障测试系统 电流测试技术 表达式 数据 处理器 存储器 算法
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