摘要
本发明实施例公开一种最大工作频率确定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及集成电路技术领域,其中所述方法包括:获取目标芯片能够通过功能测试的基准工作频率;向目标芯片上的目标组件施加大于基准工作频率的时钟频率,向目标芯片上的非目标组件施加基准工作频率,对目标芯片进行设定电压下的功能测试;如果功能测试通过,则逐次增加对目标组件所施加的时钟频率,继续所述功能测试,直至测试未通过;基于测试未通过时目标组件被施加的时钟频率,确定目标组件的最大工作频率。本发明实施例提供的技术方案通过独立测试目标组件的最大工作频率,可以更精确地找到目标组件的真实性能极限,避免整体频率设置带来的性能浪费。
技术关键词
MOS器件
芯片
时钟
可执行程序代码
基准
金属氧化物半导体
频率
电子设备
集成电路技术
可读存储介质
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