一种用于Chiplet芯片的热仿真网格生成方法及存储介质

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一种用于Chiplet芯片的热仿真网格生成方法及存储介质
申请号:CN202510047269
申请日期:2025-01-10
公开号:CN119962205A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及集成电路设计领域,提供了一种用于Chiplet芯片的热仿真网格生成方法及存储介质。该方法解决了现有技术中Chiplet芯片热仿真网格生成效率低、计算资源消耗大、网格质量差的问题。主要方案包括步骤:1)获取Die模块坐标,生成Chiplet几何体;2)输入散热器、TIM和Package信息,生成热仿真几何体;3)几何校验;4)投影生成二维几何体及信息文件;5)Delauney算法生成二维网格;6)拉伸成三维网格;7)重新输入信息,生成热仿真几何体,四面体网格生成初始热仿真网格;8)验证网格质量,不通过则增加网格点重复步骤6。提高网格生成效率,降低资源消耗,提升质量,适应多需求,实现自动化、智能化,推动热仿真技术应用。
技术关键词
网格生成方法 三维坐标信息 芯片 硅中介层 仿真软件 底面高度 三角形 长宽比 热仿真技术 散热器 三维建模技术 模块 集成电路设计 热界面材料 基板 匀质板
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