一种针对PFC软件模型裂缝劣化图像轮廓提取方法

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一种针对PFC软件模型裂缝劣化图像轮廓提取方法
申请号:CN202510050243
申请日期:2025-01-13
公开号:CN119444786B
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种针对PFC软件模型裂缝劣化图像轮廓提取方法,涉及结构工程领域,解决了现有针对PFC软件模型的裂缝劣化图像轮廓提取方法存在资源利用效率差的问题,包括步骤S1:获取目标PFC工程模型在多个不同时间节点的PFC模型文件,并对每一个PFC模型文件进行三维坐标系创建,得到模型坐标系创建数据,步骤S2:对每一个模型坐标系中的第一特征颗粒进行颗粒边缘分析,得到颗粒边缘分析数据,步骤S3:对每一个PFC模型文件进行裂缝轮廓提取,并根据提取结果进行裂缝劣化监测,得到裂缝劣化监测数据,步骤S4:根据裂缝劣化监测数据对目标PFC工程模型进行劣化评估,本发明能够实现更加快速的裂缝轮廓提取,提高模型计算资源的使用效率。
技术关键词
裂缝模型 轮廓提取方法 劣化图像 坐标系 切片 三维模型 坐标点 数值 数据 软件 缝隙 样本 偏差 标记 长度监测
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