基于非信令测试的频偏校准方法、系统、设备及介质

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基于非信令测试的频偏校准方法、系统、设备及介质
申请号:CN202510055986
申请日期:2025-01-14
公开号:CN119483878A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种基于非信令测试的频偏校准方法、系统、设备及介质,该方法包括对若干目标芯片进行并行的非信令频偏测试,进而采集目标芯片的输出波形,并根据输出波形确定目标芯片的频偏值;对频偏值进行偏差分析,并在频偏值到达预设频限范围的情况下,基于频偏值和预设校频系数,计算对应的频偏校准值;将频偏校准值写入对应的目标芯片,进行并行频偏校准;对频偏校准后的目标芯片进行校准度验证,进而确认目标芯片的频偏值是否符合预设标准频率。本申请具有提高芯片频偏校准效率的效果。
技术关键词
频偏校准方法 芯片 信令 频域分析技术 波形 校准系统 频率 测试模块 可读存储介质 处理器 偏差 子模块 传输模块 指令 计算机设备 分析模块 存储器 控制模块
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