零件型面测量路径规划方法、装置、设备及存储介质

本发明提供一种零件型面测量路径规划方法、装置、设备及存储介质，应用于机械零件数字化检测领域，包括：根据输入的采样点总数在目标零件型面上逐点进行采样处理，确定多个型面测点；根据采样点总数、各型面测点的位置信息及任意两个型面测点之间的距离构建测量路径规划模型；测量路径规划模型为在采样点总数不变情况下满足遍历多个型面测点所经历的路径距离最短的模型；根据采样点总数、多个型面测点及预设的初始解数量生成测量路径规划模型对应的多个初始解；采用教与学算法对多个初始解进行教学处理，确定每个初始解教学后的候选解，根据各候选解确定测量路径规划模型对应的目标解。采用本发明技术方案可以提升零件型面检测效率和检测精度。