一种芯片功耗的测试方法、装置、设备和介质

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片功耗的测试方法、装置、设备和介质，方法包括：获取待测芯片的第一电路对应的第一抽象层；通过通用验证方法寄存器抽象层工具读写第一抽象层的多个类型的待测对象，得到每个类型的待测对象对应的实际访问结果；将每个实际访问结果与对应类型的预期访问结果进行比较，判断每个类型的待测对象是否满足第一预设条件；如果否，则修改第一电路对应的第一抽象层；迭代待测芯片的功耗测试，直至更新的第一抽象层的每个类型的待测对象满足第一预设条件时为止；根据收敛访问结果集合，确定待测芯片的功耗数据。从而降低了整体测试成本，提高了芯片开发的经济效益。