一种存储芯片的写保护测试方法及测试系统

本发明提供一种存储芯片的写保护测试方法及测试系统，属于存储技术领域。所述存储芯片的写保护测试方法包括以下步骤：对所述存储芯片进行初始化操作；将所述存储芯片中的存储位置分为两个或多个写保护组，并设置两种或多种类型的写保护组；向所述存储芯片中写入数据，并在写入数据过程中进行掉电处理；以及检测每种类型的写保护组中是否被写入数据，进而验证每种类型的写保护是否符合需求。通过本发明提供的存储芯片的写保护测试方法及测试系统，可完成多种写保护功能的验证。