多芯片与封装系统的电磁协同仿真控制系统及方法

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多芯片与封装系统的电磁协同仿真控制系统及方法
申请号:CN202510060070
申请日期:2025-01-15
公开号:CN120046471A
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明公开了多芯片与封装系统的电磁协同仿真控制系统及方法,涉及电磁协同技术领域,包括以下步骤:根据目标系统的工作频率范围,设定初始的电磁仿真频域范围。本发明通过电磁协同仿真控制系统通过提取多信号通道非线性串扰强度和阻抗共振偏移等关键特性,结合机器学习生成的谐波变化系数,精准量化高次谐波对系统的非线性干扰与共振失配影响。系统动态调整仿真频域范围,分类识别正常与异常过程,有效捕获关键频段高次谐波干扰,避免资源浪费,提升仿真效率与系统可靠性,实现高效精准的电磁分析。
技术关键词
仿真控制方法 封装系统 谐波 机器学习模型 非线性 仿真控制系统 表达式 电磁仿真 共振频率 指数 多信号 强度 多芯片 电磁干扰源 仿真分析 通道 量化系统 速率
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