一种车载芯片的IST上电自检加速的系统、方法及存储介质

本发明公开了一种车载芯片的I ST上电自检加速的系统、方法及存储介质。本发明的优点是，利用上电复位释放后，即可进行Logi c BIST测试的机制，同时释放PLL的复位，让PLL从eFuse读取调校之后的时钟参数能够很快进入Lock时钟稳定状态，并且同时进行的Logic BIST Pattern测试，由于PLL本身是模拟电路，设计上与LBI ST的数字电路进行隔离，不会影响LBIST的测试结果。通过这种改进后，不需要LBIST Pattern测试完毕之后再开始PLL时钟参数配置等待时钟锁定，即可快速进入MBIST测试，原先Pattern配置PLL的方式通常会等待一个PLL Lock的最大时间，随后来启动MBIST测试。通过以上这种改进方式可以大大减少IST的中间等待时间。