芯片老化测试的治具控制方法、装置及存储介质

本发明涉及芯片老化测试技术领域，公开了一种芯片老化测试的治具控制方法、装置及存储介质，该方法包括：对测试治具进行参数采集，得到原始测试数据；进行控制信号分析和信号融合，将融合温度控制指令输入测试治具的温控单元，得到稳态测试数据；进行多维度分析和数据筛选，得到有效测试数据；进行性能特征提取，得到性能特征数据；进行分组，并计算各测试通道的权重系数，结合失效模式标准进行加权处理，得到老化特性数据；将老化特性数据输入寿命预测模型进行性能预测值和寿命预测值计算，得到芯片老化测试结果，本发明能够准确捕捉芯片性能退化特征，同时输出性能预测值和寿命预测值，提供了全面的老化评估结果。