RISC-V DSP芯片的RTL测试框架的数据存储方法、系统及介质

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RISC-V DSP芯片的RTL测试框架的数据存储方法、系统及介质
申请号:CN202510062725
申请日期:2025-01-15
公开号:CN120010768A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种RISC‑V DSP芯片的RTL测试框架的数据存储方法、系统及介质,该方法包括:基于RTL测试框架对测试项目进行测试,得到测试数据,将测试数据进行预处理,得到优化数据;将优化数据按照测试项目的类别进行分类,得到多个数据集;获取每一个数据集的存储需求信息与数据库内的剩余存储空间,将剩余存储空间分隔成多个子空间;基于存储需求信息与数据库内的子空间进行匹配,得到匹配结果;基于匹配结果将所有数据集分别传输至匹配的子空间内存储;通过分析不同测试项目的数据集,并对数据集进行优化,分析每一个数据集与剩余存储空间的匹配结果,从而存储至最优的子空间内,提高数据存储精度。
技术关键词
数据存储方法 数据存储系统 框架 芯片 生成数据集 可读存储介质 关系 程序 处理器 存储器 计算机 速率 精度
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