基于Morgan指纹和优化的Shapley值的化学品活性结构识别方法

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基于Morgan指纹和优化的Shapley值的化学品活性结构识别方法
申请号:CN202510064630
申请日期:2025-01-15
公开号:CN119993324B
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于Morgan指纹和优化的Shapley值的化学品活性结构识别方法。对于使用Morgan分子指纹为特征建立的模型,为训练数据集生成特征矩阵,以特征矩阵为解释背景,载入模型权重后,用SHAP方法解释模型并生成Shapley矩阵,查找并删除干扰列后,通过活性指数的定义找到低频出现但与化学品活性终点高度相关的子结构,发现高活性的分子片段。
技术关键词
结构识别方法 定量构效关系模型 矩阵 样本 生成特征 指纹 数据 索引 指数 判定方法 分子 编码 终点 定义 线性 代表 元素
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