基于大语言模型的软件测试方法、电子设备和介质

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基于大语言模型的软件测试方法、电子设备和介质
申请号:CN202510064769
申请日期:2025-01-15
公开号:CN119988217A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明实施例涉及软件测试技术领域,公开了一种基于大语言模型的软件测试方法、电子设备和介质。本发明中,通过将用户研发需求和测试用例集输入大语言模型,在索引数据库中匹配,并输出所述测试用例集中每个测试用例与所述研发需求之间的功能覆盖度;其中,所述研发需求包括至少一个功能;将所述测试用例与其功能覆盖度输入大语言模型,计算所述测试用例间的功能覆盖相似度和冗余度;将所述功能覆盖的相似度大于第一预设阈值,且所述冗余度大于第二预设阈值的测试用例通知用户审核,并基于用户处理结果更新测试用例集。减少了软件测试时测试用例的冗余和重复。
技术关键词
大语言模型 软件测试方法 测试用例集 版本更新 机器学习模型 关键词 冗余度 索引 软件测试技术 电子设备 关系 处理器通信 可读存储介质 通知 存储器 指令
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