一种同轴三光束激光粒度仪及其测量方法

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一种同轴三光束激光粒度仪及其测量方法
申请号:CN202510069122
申请日期:2025-01-16
公开号:CN119470173A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种同轴三光束激光粒度仪及其测量方法,包括三波长激光转换模块、透镜、样品池以及光电探测器,其中三波长激光转换模块,可以先后同轴输出三种波长的激光,平行激光经透镜汇聚照射到样品池,其中样品池与垂直方向成一定夹角放置,分别在样品池前向、侧向和透镜后向设置光电探测器同时接收样品的散射光。本发明可以采集三种不同波长的同轴激光经样品池的散射光信号,可以同时兼顾小颗粒和大颗粒的检测需求,使粒度检测范围的下限更小、上限更大,避免颗粒的检测遗漏,提高激光粒度仪的测量精度,同时提高复杂样品适应性。
技术关键词
激光器 分光棱镜 波长 激光粒度仪 光强 合色棱镜 散射光 样品池 直线平台 透镜 光束 测量方法 光电探测器 镀膜 镜片 反演算法
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