用于通过广义最小二乘光谱解析样本荧光团的方法和系统

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用于通过广义最小二乘光谱解析样本荧光团的方法和系统
申请号:CN202510069232
申请日期:2025-01-16
公开号:CN120334184A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本公开的各方面包括用于光谱解析来自样本中的荧光团的光的方法。根据某些实施例的方法包括:使用光检测系统检测来自包括具有重叠荧光光谱的多个荧光团的样本的光,以及使用广义最小二乘算法对来自样本中每个荧光团的光进行光谱解析。在一些实施例中,方法包括估计样本中(例如在粒子上)一个或更多个荧光团的丰度。在某些实例中,方法包括基于每个荧光团的丰度识别样本中的粒子并分选粒子。根据一些实施例的方法包括通过计算针对每个荧光团的荧光光谱的光谱解混矩阵对来自每个荧光团的光进行光谱解析。也提供了用于实践主题方法的系统和集成电路器件(例如,现场可编程门阵列)。
技术关键词
光检测系统 光电检测器 荧光 样本 广义 生成数据信号 协方差矩阵 现场可编程门阵列 集成电路器件 主题方法 处理器 通道 粒子 检测光 算法 存储器 因子 指令
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