监测NBTI效应的高精度模拟电路、芯片及IP

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监测NBTI效应的高精度模拟电路、芯片及IP
申请号:CN202510071357
申请日期:2025-01-16
公开号:CN119986315A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种监测NBTI效应的高精度模拟电路、芯片及IP,属于集成电路技术领域,包括:NBTI效应监测单元、带隙基准电路和新型迟滞比较器;本发明电路结构较简单,采用模拟电路,电路中的电阻值小,具有面积小,成本低的特点;在不同工艺、温度、电源电压下,能通过输出的预警信号非常简便、精准地监测被测芯片的NBTI效应,解决了现有技术方案芯片面积大,设计复杂度高,精度低的问题。
技术关键词
NBTI效应 晶体管 单刀双掷开关 监测单元 带隙基准电路 放大器 电阻 支路 基准电压 电流 信号 基准源 电源 集成电路技术 芯片 输入端 反相器
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