一种基于单目双线激光的基准孔位姿测量系统及方法

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一种基于单目双线激光的基准孔位姿测量系统及方法
申请号:CN202510072814
申请日期:2025-01-17
公开号:CN120027696A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于单目双线激光的基准孔位姿测量系统及方法,所述系统包括单目相机、两个线激光发生器、棋盘格标定板、机器人和上位机,所述上位机执行以下过程:控制单目相机进行拍摄图像并进行标定,在对图像进行畸变矫正后,提取出四个特征点和两组激光中心线的二维坐标,根据二维坐标转化为在机器人坐标系下的三维坐标,根据在机器人坐标系下的三维坐标分别得到对应的圆心坐标和圆心法向并确定基准孔位姿,所述方法实现上述过程。本发明通过利用单目相机配合两个线激光,完成基准孔孔心的三维坐标定位和圆心法向计算,能够精确获得基准孔的三维位置,将基准孔的理论孔位位置和法向进行比较计算偏差,对待加工孔进行补偿,提高制孔的质量。
技术关键词
棋盘格标定板 机器人基坐标系 中心线 单目相机 基准 激光发生器 圆心 图像 方程 像素点 双线 特征点 矫正
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