一种存储芯片的测试方法及测试装置

本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：向存储芯片写入填充数据，直至填充数据填满存储器；开启存储芯片的缓存功能，并向存储芯片中写入测试数据，每个数据单元中所述测试数据的数据格式与写入顺序相关，且每个所述数据单元中写入的所述测试数据的数据格式相同；当向所述存储芯片中写入的所述测试数据的数据量达到设定阈值时，在向所述存储芯片中写入所述测试数据的过程中，断开所述存储芯片的供电；以及依据所述存储器中最后写入的所述测试数据和写缓存器中最后写入的所述测试数据获取写缓存器的容量。通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试装置，可获取写缓存器的容量。